作為納米研究的重要工具----X射線光電子能譜(XPS)可以對(duì)樣品表面1~2nm深度范圍內(nèi)的3Li~92U進(jìn)行材料的元素成分、化學(xué)價(jià)態(tài)、價(jià)帶電子態(tài)分析,提供納米研究領(lǐng)域關(guān)心的重要信息。
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國(guó)家納米科學(xué)中心 |
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島津國(guó)際貿(mào)易(上海)有限公司 |
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島津國(guó)際貿(mào)易(上海)有限公司 |
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北京大學(xué) |
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清華大學(xué) |
島津X射線光電子能譜儀由島津制作所的全資子公司--英國(guó)KRATOS公司生產(chǎn)。AXIS ULTRA DLD系統(tǒng)是一個(gè)高性能的電子譜儀,結(jié)合了藝術(shù)化XPS功能,包括杰出能量分辨和最高的靈敏度。標(biāo)準(zhǔn)特色是小束斑和平行成像XPS,具備包括俄歇電子能譜(AES)、紫外光電子能譜(UPS)和離子散射譜(ISS)為選件的全部多技術(shù)兼容性。